לפרטים נוספים ולקבלת הצעת מחיר
With sub-micron feature recognition, the XT V system range meets today’s need for high performance, non-destructive inspection of complex electronic components. Nikon’s Xi Nanotech X-ray source paired with industry leading flat panel detectors produces best-in-class image quality, with seamless transition between 2D and 3D inspection.
צרו קשר
קטלוג מוצרים
ניווט באתר
יועצי המכירות שלנו ייצרו אתכם קשר במהרה בנוגע לפנייתכם
